[实用新型]一种CCD激光测厚装置

摘要

本实用新型涉及一种CCD激光测厚装置，包括激光发生器、CCD图像采集装置、夹具座、支架。待测电子元器件放置于夹具座上，调整激光发生器的焦点和光斑的位置，使激光发生器产生的光聚焦在所述电子元件的待测点上，然后CCD图像采集装置采集图像，记录下放上产品后光斑中心在CCD视野中的坐标，移除待测产品，则激光发生器产生的光斑将落在夹具座表面上，记录下移除产品后的光斑中心在CCD视野中的坐标。由于待测电子元器件的待测点和夹具座的表面平整，所以移除前后，光斑中心相对于光斑的位置相对不变。这样，通过图像处理模块比较移除待测电子元件前后光斑中心在CCD视野中的位置变化，即可推测出被测电子元器件的厚度。

主权项

一种CCD激光测厚装置，其特征在于，包括支架(2)、设置在支架(2)上的CCD图像采集装置(1)和至少一组激光发生器(3)、以及位于激光发生器(3)下方的夹具座(4)；所述激光发生器(3)设置在CCD图像采集装置(1)和夹具座(4)之间。