[实用新型]一种多通道窄波段波谱反照率测量装置有效

专利信息
申请号: 201320404991.0 申请日: 2013-07-09
公开(公告)号: CN203396709U 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 周红敏;王锦地;梁顺林;屈永华;张开 申请(专利权)人: 北京师范大学
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅;王春霞
地址: 100875 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种多通道窄波段设置的波谱反照率测量装置。所述波谱反照率测量装置包括一壳体和分别设置于所述壳体的顶部和底部上的向上观测传感器和向下观测传感器;所述向上观测传感器和所述向下观测传感器均包括余弦矫正器、滤光片和探测器;向上观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由上至下依次设置;向下观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由下至上依次设置。本实用新型可以精确测定与卫星传感器波谱响应一致的窄波段波谱反照率,为卫星产品的验证提供直接的验证设备和数据;本实用新型采用的余弦校正器可以有效降低传感器的余弦误差;本实用新型为一体式的上下两个传感器,可以简化设备,便于防水和安装。
搜索关键词: 一种 通道 波段 波谱 反照率 测量 装置
【主权项】:
一种多通道窄波段设置的波谱反照率测量装置,其特征在于:所述波谱反照率测量装置包括一壳体和分别设置于所述壳体的顶部和底部上的向上观测传感器和向下观测传感器;所述向上观测传感器和所述向下观测传感器均包括余弦矫正器、滤光片和探测器;所述向上观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由上至下依次设置;所述向下观测传感器中,所述余弦矫正器、所述滤光片和所述探测器由下至上依次设置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京师范大学,未经北京师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201320404991.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top