[实用新型]密封结构、反应腔室和半导体处理设备有效

专利信息
申请号: 201320425745.3 申请日: 2013-07-17
公开(公告)号: CN203429246U 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 党志泉;周卫国 申请(专利权)人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100026 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种密封结构、反应腔室和半导体处理设备,涉及半导体设备领域,现有密封圈受热容易损坏失效的问题。本实用新型一种密封结构,包括通过密封圈密封的第一结构与第二结构,还包括密封圈冷却结构,所述密封圈冷却结构包括:风冷输气管和风冷导气孔;所述风冷导气孔的一端与所述风冷输气管相导通,另一端形成多个风冷出气口,所述风冷出气口的位置位于所述密封圈内侧。冷却气体通过风冷输气管导入,经风冷导气孔流向密封圈,对密封圈进行冷却。
搜索关键词: 密封 结构 反应 半导体 处理 设备
【主权项】:
一种密封结构,包括密封圈,通过密封圈密封的第一结构与第二结构,其特征在于,还包括密封圈冷却结构,所述密封圈冷却结构包括:风冷输气管和风冷导气孔;所述风冷导气孔的一端与所述风冷输气管相导通,另一端形成多个风冷出气口,所述风冷出气口的位置位于所述密封圈内侧。
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