[实用新型]一种实现优选板卡全面测试的测试装置有效

专利信息
申请号: 201320452384.1 申请日: 2013-07-26
公开(公告)号: CN203519784U 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 时建纲;邹华明;裴红伟;孟广国;龙威;井占发 申请(专利权)人: 北京广利核系统工程有限公司;中国广核集团有限公司
主分类号: G01R31/3177 分类号: G01R31/3177
代理公司: 北京元中知识产权代理有限责任公司 11223 代理人: 王明霞
地址: 100094 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开一种实现优选板卡全面测试的测试装置,包括执行测试过程的工业电脑,所述工业电脑内安装有生成所有测试步骤的数据处理模块,安装优选板卡的机箱及安装的待测试优选板卡,以及在待测试优选板卡与工业电脑之间进行数据输出和输入处理的数据采集卡,所述待测试优选板卡包括双指令板卡、单指令得电优先板卡和单指令失电优先板卡。本实用新型可实现同时对多种不同逻辑类型的优选板卡(如:PL-1、PL-2、PL-3)的自动测试,大大提高了测试效率,在型式试验中能够大大节约测试费用,也减少测试人工的投入。
搜索关键词: 一种 实现 优选 板卡 全面 测试 装置
【主权项】:
一种实现优选板卡全面测试的测试装置,包括执行测试过程的工业电脑(1),其特征在于,所述工业电脑(1)内安装有生成所有测试步骤的数据处理模块(2),安装待测试优选板卡(4)的机箱(6),以及在待测试优选板卡(4)与工业电脑(1)之间进行数据输出和输入处理的数据采集卡(3),所述待测试优选板卡(4)的类型包括双指令板卡、单指令得电优先板卡和单指令失电优先板卡,在数据采集卡(3)与待测试优选板卡(4)的连接线路上并联有测试待测试优选板卡(4)响应时间、信号质量以及抗干扰能力的检测装置(5),所述检测装置(5)包括示波器、函数发生器和波形记录仪。
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