[实用新型]一种单光束双工位大量程激光粒度测量装置有效
| 申请号： | 201320483270.3 | 申请日： | 2013-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN203365279U | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 任中京;陈栋章 | 申请（专利权）人： | 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 山东众成仁和律师事务所 37229 | 代理人： | 牟迅 |
| 地址： | 250000 山东省济*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 单光束双工位大量程激光粒度测量装置，包括一用于发射激光的激光器1，激光器1的后端按照激光光路的前进方向依次设置有扩束镜2、傅里叶透镜4、用于改变激光光路方向的光学组件、光电探测器阵列10，一样品窗6，所述傅里叶透镜4和光学组件之间设有第一工位12，所述光学组件和光电探测器阵列10之间设有第二工位9，所述样品窗6在所述第一工位12和第二工位9之间相对移动。本实用新型的有益效果为：采用折叠光路，可移动样品窗，实现了对样品的二次测试，扩大了仪器测量范围,光路长度缩短为原长的1/2。大大减小了仪器体积，提高了仪器测量精度，为激光粒度仪的广泛普及提供了一种全新最优化的结构。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光束 双工 量程 激光 粒度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种单光束双工位大量程激光粒度测量装置，包括一用于发射激光的激光器（1），激光器（1）的后端按照激光光路的前进方向依次设置有扩束镜（2）、傅里叶透镜（4）、用于改变激光光路方向的光学组件、光电探测器阵列（10），一样品窗（6），其特征在于，所述傅里叶透镜（4）和光学组件之间设有第一工位（12），所述光学组件和光电探测器阵列（10）之间设有第二工位（9），所述样品窗（6）在所述第一工位（12）和第二工位（9）之间相对移动。
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