[实用新型]一种测试电容的老化装置有效
| 申请号： | 201320484819.0 | 申请日： | 2013-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN203365593U | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 邹远辉;陈凤佳 | 申请（专利权）人： | 中山市万科电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中山市科创专利代理有限公司 44211 | 代理人： | 钟作亮 |
| 地址： | 528400 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试电容的老化装置，包括支架，在支架上依次设有多个层架，在各个层架上各自设置有多个测试电容组件，在各个测试电容组件上连接高压电源，在支架的底部设有电阻组件，各个测试电容组件相应电连接至电阻组件中的各个电阻上。本实用新型具有结构简单，使用方便，效果好等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电容 老化 装置 | ||
【主权项】：
一种测试电容的老化装置，其特征在于包括支架（1），在支架（1）上依次设有多个层架（2），在各个层架上各自设置有多个测试电容组件（3），在各个测试电容组件（3）上连接高压电源，在支架（1）的底部设有电阻组件（4），各个测试电容组件（3）相应电连接至电阻组件（4）中的各个电阻上。
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