[实用新型]一种薄膜开关AOI检测器有效
| 申请号： | 201320488371.X | 申请日： | 2013-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN203396912U | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 樊春兰 | 申请（专利权）人： | 昆山金利表面材料应用科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01N21/88 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种薄膜开关AOI检测器，包括用于读取待测薄膜开关信息的信号采集设备、用于检测待测薄膜开关综合功能的AOI功能检测设备、用于检测待测薄膜开关外观的AOI外观检测设备、用于记录检测结果的检测记录设备和用于显示检测结果的检测信号输出设备；上述AOI功能检测设备、AOI外观检测设备的输入端分别与上述信号采集设备连接，其输出端分别与检测记录设备和检测信号输出设备连接。本实用新型的有益之处在于：可以减少人员不易识别的缺陷工具，能查找和消除错误，以实现良好的过程控制，避免因人员目视不出而导致一些错误及客诉。能够迅速确定并报告故障发生的位置及其性质，而为操作人员提供进行有效的工艺控制和所需的实际检测数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜开关 aoi 检测器 | ||
【主权项】：
一种薄膜开关AOI检测器，包括用于读取待测薄膜开关信息的信号采集设备，其特征在于，还包括用于检测待测薄膜开关综合功能的AOI功能检测设备、用于检测待测薄膜开关外观的AOI外观检测设备、用于记录检测结果的检测记录设备和用于显示检测结果的检测信号输出设备；上述AOI功能检测设备、AOI外观检测设备的输入端分别与上述信号采集设备连接，其输出端分别与检测记录设备和检测信号输出设备连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山金利表面材料应用科技股份有限公司，未经昆山金利表面材料应用科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320488371.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
