[实用新型]低成本、高适用性共晶装片半导体芯片背面金属化结构有效

专利信息
申请号: 201320501697.1 申请日: 2013-08-16
公开(公告)号: CN203456442U 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 叶新民;王文源;袁昌发;冯东明;王新潮 申请(专利权)人: 江阴新顺微电子有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488
代理公司: 江阴市同盛专利事务所(普通合伙) 32210 代理人: 唐纫兰
地址: 214434 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种低成本、高适用性共晶装片半导体芯片背面金属化结构,属于集成电路或分立器件芯片制造技术领域。所述结构是在背面衬底硅片(6)表面按顺序依次镀上第一金属层(1)、第二金属层(2)、第三金属层(3)、第四金属层(4)和第五金属层(5),所述第一金属层(1)是钛、钒或铬,第二金属层(2)是铝,第三金属层(3)是镍,第四金属层(4)是锡、锡铜或锡银,第五金属层(5)是银。本实用新型结构能降低芯片背面金属化成本及提高产品的适用范围,本实用新型可以代替目前所有适用于共晶装片的背面金属化工艺。
搜索关键词: 低成本 适用性 共晶装片 半导体 芯片 背面 金属化 结构
【主权项】:
一种低成本、高适用性共晶装片半导体芯片背面金属化结构,其特征在于:所述结构是在背面衬底硅片(6)表面按顺序依次镀上第一金属层(1)、第二金属层(2)、第三金属层(3)、第四金属层(4)和第五金属层(5),所述第一金属层(1)是钛、钒或铬,第二金属层(2)是铝,第三金属层(3)是镍,第四金属层(4)是锡、锡铜或锡银,第五金属层(5)是银。
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