[实用新型]杂光系数和点源透过率复合测试系统有效
| 申请号： | 201320523267.X | 申请日： | 2013-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN203479497U | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 薛勋;赵建科;徐亮;刘峰;赛建刚;陈永权;张洁;胡丹丹;田留德;段亚轩;高斌 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 杨引雪 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 实用新型涉及杂光系数和点源透过率复合测试系统，能够较大程度节约成本。本系统包括用于测杂光系数的第一系统以及用于测点源透过率的第二系统，第一系统与第二系统共用同一个准直反射镜。本实用新型创新式的使用了离轴反射镜机构，极大的节约了测试成本，通过光源系统、采集系统等的配合，实现了对大口径、长焦距相机光学部件杂散光抑制能力的准确、全面测试。 | ||
| 搜索关键词： | 系数 透过 复合 测试 系统 | ||
【主权项】：
杂光系数和点源透过率复合测试系统，其特征在于，包括用于测杂光系数的第一系统以及用于测点源透过率的第二系统，第一系统包括积分球系统和准直反射镜，第二系统包括准直反射镜和次镜，所述第一系统与第二系统共用同一个准直反射镜；当测量杂光系数时，准直反射镜位于积分球系统的开口处，当测量点源透过率时，准直反射镜位于次镜的出射光路上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320523267.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种铝电解槽并联预热装置
- 下一篇：干式生物质多烧采暖炉
