[实用新型]老化测试器有效
申请号: | 201320555527.1 | 申请日: | 2013-09-06 |
公开(公告)号: | CN203465844U | 公开(公告)日: | 2014-03-05 |
发明(设计)人: | 王东林;李中南 | 申请(专利权)人: | 深圳市北川电子有限公司 |
主分类号: | G08C25/00 | 分类号: | G08C25/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 何平 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种老化测试器,包括主控板、指示灯、按键、主控芯片、主控芯片串口、晶振和测试板,所述指示灯包括电源指示灯、按键设置状态灯、模块状态灯、通讯指示灯和故障灯,每个模块对应两个模块状态灯,其中一个模块状态灯安装在所述主控板上,另一个模块状态灯安装在所述测试板上对应模块位置;所述按键、主控芯片、主控芯片串口和晶振设置在所述主控板上,所述主控板和测试板相连,所述测试板上设置多个安装模块的位置。上述老化测试器,通过主控板上的主控芯片接口可与多个安装模块的位置上的模块进行通讯,可实现同时带多套载波模块进行测试,提高了测试效率,主控芯片与测试板上的模块进行数据传输通讯测试,不需配合电表即可实现模块测试。 | ||
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【主权项】:
一种老化测试器,其特征在于,包括主控板、指示灯、按键、主控芯片、主控芯片串口、晶振和测试板,所述指示灯包括电源指示灯、按键设置状态灯、模块状态灯、通讯指示灯和故障灯,所述电源指示灯、按键设置状态灯、通讯指示灯、故障灯安装在所述主控板上,每个模块对应两个模块状态灯,其中一个模块状态灯安装在所述主控板上,另一个模块状态灯安装在所述测试板上对应模块位置;所述按键、主控芯片、主控芯片串口和晶振设置在所述主控板上,所述主控板和测试板相连,所述测试板上设置多个安装模块的位置,所述主控芯片串口包括四个串口,第一个串口与多个模块中一部分进行通讯,第二个串口与多个模块中剩余部分进行通讯,第三个串口与载波模块接口通讯,第四个串口与无线模块接口通讯。
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