[实用新型]新型电容处理测试设备有效

专利信息
申请号: 201320608584.1 申请日: 2013-09-29
公开(公告)号: CN203606460U 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 杨必祥;程传波;吴伟;胡鹏;石怡 申请(专利权)人: 昆山万盛电子有限公司
主分类号: G01R31/18 分类号: G01R31/18
代理公司: 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 代理人: 孙艳
地址: 215300 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种新型电容处理测试设备,其包括:机架;送料平台,其设置于上述机架上;沿上述送料平台依次设置并电连外部供控制设备的切尾机构、第一电容测试机构、第一耐压测试机构、绝缘电阻测试机构和激光打标机构;其中,上述的切尾机构用于切除产品的尾脚,该产品置于上述送料平台上并由该送料平台依次输送到上述的各个机构处进行相应的处理。本实用新型相较于现有技术工作效率大幅提高,生产时间大幅缩短,可以高效快速地完成对电容器或者电阻器的测试和处理作业。
搜索关键词: 新型 电容 处理 测试 设备
【主权项】:
新型电容处理测试设备,其特征在于:包括:机架;送料平台,其设置于所述机架上;沿所述送料平台依次设置并电连外部控制设备的切尾机构、第一电容测试机构、第一耐压测试机构、绝缘电阻测试机构和激光打标机构;其中,所述切尾机构用于切除产品的尾脚,所述产品置于所述送料平台上并由所述送料平台依次输送到所述的各个机构处进行相应的处理。
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