[实用新型]一种可进行水平校准的电子分析天平有效

专利信息
申请号: 201320611143.7 申请日: 2013-09-30
公开(公告)号: CN203824637U 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 刘达文;李修强;初亚飞;胡佚;罗永刚;毕金;毛宇;李健;凌云 申请(专利权)人: 南京白云化工环境监测有限公司
主分类号: G01G23/00 分类号: G01G23/00
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 顾进
地址: 210047 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种可进行水平校准的电子分析天平,包括测量基座与设置在测量基座上的测量室,所述测量基座包含控制面板、显示屏,以及设立在测量基座上表面的测量平台;所述测量室包括玻璃面板与前开门;所述测量基座下方设有至少3根相互间均独立的支架,所述支架均可进行伸缩;所述测量基座上安装有水准器,所述水准器内部装填有酒精,水准器内包含有一气泡;所述水准器表面标有分标线;采用上述技术方案的电子分析天平,其可使得每次测量时的天平均处于水平状态,从而减少测量误差,到达电子分析天平精确测量的目的。
搜索关键词: 一种 进行 水平 校准 电子 分析 天平
【主权项】:
一种可进行水平校准的电子分析天平,包括测量基座与设置在测量基座上的测量室,所述测量基座包含控制面板、显示屏,以及设立在测量基座上表面的测量平台;所述测量室包括玻璃面板与前开门;其特征在于,所述测量基座下方设有至少3根相互间均独立的支架,所述支架均可进行伸缩;所述测量基座上安装有水准器,所述水准器内部装填有酒精,水准器内包含有一气泡;所述水准器表面标有分标线。
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