[实用新型]一种平板平面度测量装置有效
申请号: | 201320619326.3 | 申请日: | 2013-10-08 |
公开(公告)号: | CN203518938U | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 陈小骏;范建设 | 申请(专利权)人: | 武汉钢铁(集团)公司;武汉钢铁工程技术集团有限责任公司 |
主分类号: | G01B7/34 | 分类号: | G01B7/34 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 430080 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本实用新型涉及平面度测量技术领域,公开了一种平板平面度测量装置,包括:至少3个测距装置、放大模块及处理器;测距装置的输入端对向待测平板,测距装置的输出端与放大模块的输入端连接,放大模块的输出端与处理器的输入端连接。本实用新型先通过测距装置得到装置到待测平板的距离数据,再通过放大模块对距离数据进行放大,并将放大后的距离数据传输到处理器,处理器将距离数据转换成平面度数值,从而避免了工作人员对距离数据的大量处理工作,不仅降低了工作人员的劳动强度,而且避免了由于人为失误所造成的数据误差的产生,提高了平板平面度的测量准度。 | ||
搜索关键词: | 一种 平板 平面 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种平板平面度测量装置,其特征在于,包括:至少3个测距装置、放大模块及处理器;所述测距装置的输入端对向待测平板,所述测距装置的输出端与所述放大模块的输入端连接,所述放大模块的输出端与所述处理器的输入端连接;所述测距装置将测量得到的与所述待测平板之间的距离数据传输到所述放大模块进行功率放大,所述放大模块再将经功率放大后的数据传输到所述处理器,由所述处理器处理得到平板平面度数据。
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