[实用新型]一种半导体激光器光强分布测试装置有效
| 申请号： | 201320660867.0 | 申请日： | 2013-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN203629679U | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;王贞福;吴迪 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 胡乐 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种半导体激光器光强分布测试装置，包括半导体激光器、旋转平移台以及设置于旋转平移台上的取样装置，取样装置的入光口面向半导体激光器的出光面，取样装置的出光口接有激光强度测量仪；以激光器发光面几何中心为原点，设过原点垂直于激光器发光面的法线方向为z轴，在垂直于z轴的平面上过原点的直线为扫描基准线，取样装置的扫描幅面垂直于扫描基准线；旋转平移台能够沿所述扫描基准线轴向移动，还能够以所述扫描基准线为轴旋转。本实用新型可以准确测试半导体激光器的远场光强分布，通过光强分布可以得到半导体激光器的光斑尺寸，远场发散角等信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 分布 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体激光器光强分布测试装置，包括半导体激光器、旋转平移台以及设置于旋转平移台上的取样装置，取样装置的入光口面向半导体激光器的出光面，取样装置的出光口接有激光强度测量仪；以激光器发光面几何中心为原点，设过原点垂直于激光器发光面的法线方向为z轴，在垂直于z轴的平面上过原点的直线为扫描基准线，取样装置的扫描幅面垂直于扫描基准线；所述旋转平移台能够沿所述扫描基准线轴向移动，还能够以所述扫描基准线为轴旋转。
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