[实用新型]精密相位测量与调整装置有效

专利信息
申请号: 201320670713.X 申请日: 2013-10-28
公开(公告)号: CN203520227U 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 邢燕;胡永辉;王凡;赵爱萍;陈颖鸣 申请(专利权)人: 中国科学院国家授时中心
主分类号: G06F1/12 分类号: G06F1/12
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 顾潮琪
地址: 710600 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型提供了一种精密相位测量与调整装置,外部10MHz参考信号经调相电路传输至测量电路,测量电路将相位测量值传输至单片机系统,所述的相位测量值包括1MHz信号和本地秒信号的相位测量值,单片机系统将相位测量值通过接口电路输出给用户,同时用户的相位修正信息通过接口电路和单片机系统传输至调相电路,用户的钟面设置信息通过接口电路和单片机系统传输至显示电路。本实用新型具有精密相位测量功能,分辨率高,调相范围宽,集成度高。
搜索关键词: 精密 相位 测量 调整 装置
【主权项】:
一种精密相位测量与调整装置,包括单片机系统、调相电路、测量电路、显示电路和接口电路,其特征在于:外部10MHz参考信号经调相电路传输至测量电路,测量电路将相位测量值传输至单片机系统,所述的相位测量值包括1MHz信号和本地秒信号的相位测量值,单片机系统将相位测量值通过接口电路输出给用户,同时用户的相位修正信息通过接口电路和单片机系统传输至调相电路,用户的钟面设置信息通过接口电路和单片机系统传输至显示电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院国家授时中心,未经中国科学院国家授时中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201320670713.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top