[实用新型]一种高压电容器内部故障测试系统有效
申请号: | 201320676766.2 | 申请日: | 2013-10-30 |
公开(公告)号: | CN203551695U | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 段军鹏;刘譞;胥均;王柳青;康勇;张建;张方荣 | 申请(专利权)人: | 成都高斯电子技术有限公司;云南电网公司楚雄供电局 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 成都赛恩斯知识产权代理事务所(普通合伙) 51212 | 代理人: | 王璐瑶 |
地址: | 610000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种高压电容器内部故障测试系统。该系统包括MCU控制器;与MCU控制器相连,受MCU控制,带扫频功能的数字脉冲发生器;与数字脉冲发生器相连的功率放大器;串联于功率放大器和被试电容器之间、在被试电容器开路或高阻状态时自动断开内部通路,同时与MCU控制器相连、与MCU进行数据交互的有源电子开关1;与被试电容器并联、能释放被试电容器内部残余电荷,同时与MCU控制器相连、与MCU进行数据交互的有源电子开关2;分别与被测电容器并联,同时与MCU控制器相连、与MCU进行数据交互的数字功率计和数字相位计。与现有技术相比,本实用新型能将被试电容器内部残余电荷对地放电,测试准确度高,且能减少静态电流,避免试验线路的非高压输出。 | ||
搜索关键词: | 一种 高压 电容器 内部 故障测试 系统 | ||
【主权项】:
一种高压电容器内部故障测试系统,其特征在于,所述测试系统包括:MCU控制器;与MCU控制器相连,受MCU控制器控制,带扫频功能的数字脉冲发生器;与数字脉冲发生器相连的功率放大器;串联于功率放大器和被试高压电容器之间、在被试高压电容器开路或高阻状态时自动断开内部通路,同时与MCU控制器相连、与MCU控制器进行数据交互的有源电子开关1;与被试高压电容器并联、能释放被试高压电容器内部残余电荷,同时与MCU控制器相连、与MCU控制器进行数据交互的有源电子开关2;与被试高压电容器并联,同时与MCU控制器相连、与MCU控制器进行数据相互的数字功率计;与被试高压电容器并联,同时与MCU控制器相连、与MCU控制器进行数据交互的数字相位计。
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