[实用新型]单片超小型MEMS芯片有效

专利信息
申请号: 201320722916.9 申请日: 2013-11-15
公开(公告)号: CN203568841U 公开(公告)日: 2014-04-30
发明(设计)人: 华亚平 申请(专利权)人: 安徽北方芯动联科微系统技术有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00
代理公司: 蚌埠鼎力专利商标事务所有限公司 34102 代理人: 王琪;陆淑贤
地址: 233042*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开一种单片超小型MEMS芯片,由盖板、MEMS层和硅穿孔层组成,盖板上有一个下腔体,硅穿孔层上有一个上腔体,上腔体深度为1~5µm,上、下腔体与MEMS层围成密封腔,MEMS结构位于密封腔内;硅穿孔层上有隔离沟,隔离沟将硅穿孔层分为密封区、垂直电极和导电柱,MEMS结构通过键合块与导电柱电连接;硅穿孔层上有绝缘层,绝缘层上有通孔,绝缘层上有金属导线层,金属导线层与导电柱和垂直电极电连接;绝缘层上有钝化层,钝化层上有压焊窗口;钝化层上有屏蔽金属层。本实用新型通过减小上腔体的深度,将部分硅穿孔层直接作为垂直电极,不需要另外制作垂直电极,工艺流程简单,可减小MEMS芯片的面积和体积,成本低,成品率高。
搜索关键词: 单片 超小型 mems 芯片
【主权项】:
单片超小型MEMS芯片,由盖板、MEMS层和硅穿孔层键合而成,盖板上至少有一个开口向上的下腔体,硅穿孔层上至少有一个开口向下的上腔体,上腔体、下腔体与MEMS层共同围成密封腔,MEMS结构位于密封腔内,盖板与MEMS层间有键合材料层,其特征在于:所述上腔体的深度为1~5 µm;所述硅穿孔层上刻蚀有隔离沟,隔离沟内填充绝缘材料,隔离沟将硅穿孔层分为密封区、垂直电极和导电柱,MEMS结构通过键合块与导电柱电连接;硅穿孔层外表面至少有一层绝缘层,绝缘层上开有通孔,绝缘层上至少有一层图形化的金属导线层,金属导线层通过绝缘层上的通孔与导电柱和垂直电极电连接;所述绝缘层上至少有一层钝化层,金属导线层包裹在钝化层中,钝化层上至少有一个压焊窗口;钝化层上至少有一层屏蔽金属层。
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