[实用新型]雷达料位计有效

专利信息
申请号: 201320754997.0 申请日: 2013-11-25
公开(公告)号: CN203672449U 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 克里斯蒂安·斯凯于格;托马斯·文纳贝里;特诺斯·科尔斯博;迈克尔·拉尔森 申请(专利权)人: 罗斯蒙特储罐雷达股份公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284;G01F25/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杜诚;陈炜
地址: 瑞典*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 实用新型涉及一种雷达料位计,该雷达料位计包括设置在罐中的已知基准反射器料位处的基准反射器。该雷达料位计在填充料位测量状态与验证测试状态之间可控。在验证测试状态下,雷达料位计被配置成基于由电磁发射信号在基准反射器处的反射而产生的基准反射器回波来确定第一验证料位;基于由电磁发射信号在产品的表面处的反射而产生的表面回波来确定第二验证料位;提供第一验证料位和第二验证料位以使得能够至少基于第一验证料位、已知基准反射器料位以及第二验证料位来确定验证测试结果。
搜索关键词: 雷达 料位计
【主权项】:
一种用于确定罐中的产品的填充料位的雷达料位计,所述雷达料位计耦接至主机系统,所述雷达料位计包括:收发器,用于生成、发射和接收电磁信号;基准反射器,其被设置在所述产品的表面以上的已知基准反射器料位处;传播装置,其连接至所述收发器,并被设置成:向所述罐中的所述产品传播来自所述收发器的多个电磁发射信号;以及使多个电磁反射信号返回至所述收发器,每个所述电磁反射信号包括由所述电磁发射信号中的相应电磁发射信号在其遇到的阻抗不连续处的反射而产生的若干回波;以及处理电路,用于基于由所述电磁发射信号之一在所述产品的所述表面处的反射而产生的表面回波来确定所述填充料位;其中,所述雷达料位计在填充料位测量状态与验证测试状态之间可控,并且其中,在所述验证测试状态下,所述处理电路被配置成:基于由所述电磁发射信号之一在所述基准反射器处的反射而产生的基准反射器回波来确定第一验证料位;基于由所述电磁发射信号之一在所述产品的所述表面处的反射而产生的表面回波来确定第二验证料位;以及提供所述第一验证料位和所述第二验证料位以使得能够基于所述第一验证料位与所述已知基准反射器料位之间的关系以及所述第二验证料位来确定验证测试结果。
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