[实用新型]通过带为7550-13900nm的红外测温滤光片有效
申请号: | 201320777758.7 | 申请日: | 2013-11-29 |
公开(公告)号: | CN203551819U | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 王继平;吕晶;余初旺 | 申请(专利权)人: | 杭州麦乐克电子科技有限公司 |
主分类号: | G02B5/20 | 分类号: | G02B5/20;G02B1/00;G01J5/08 |
代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人: | 周豪靖 |
地址: | 311188 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型所设计的一种测试精度高、能极大提高信噪比的通过带为7550-13900nm的红外测温滤光片,包括以Si为原材料的基板,以Ge、ZnS为第一镀膜层和以Ge、ZnS为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,该通过带为7550-13900nm的红外测温滤光片,其在温度测量过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度。该滤光片50%Cut on=7550±200nm,50%Cut off=13900±400nm;7750~13400nm Tavg≥85%;2000~7000nm、14500~19000nm Tavg≤1%。 | ||
搜索关键词: | 通过 7550 13900 nm 红外 测温 滤光 | ||
【主权项】:
一种通过带为7550‑13900nm的红外测温滤光片,包括以Si为原材料的基板,以Ge、ZnS为第一镀膜层和以Ge、ZnS为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:411nm厚度的Ge层、271nm厚度的ZnS层、356nm厚度的Ge层、317nm厚度的ZnS层、187nm厚度的Ge层、346nm厚度的ZnS层、156nm厚度的Ge层、322nm厚度的ZnS层、159nm厚度的Ge层、489nm厚度的ZnS层、194nm厚度的Ge层、293nm厚度的ZnS层、167nm厚度的Ge层、317nm厚度的ZnS层、163nm厚度的Ge层、289nm厚度的ZnS层、261nm厚度的Ge层、391nm厚度的ZnS层、180nm厚度的Ge层、231nm厚度的ZnS层、302nm厚度的Ge层、404nm厚度的ZnS层、353nm厚度的Ge层、312nm厚度的ZnS层、259nm厚度的Ge层、310nm厚度的ZnS层、382nm厚度的Ge层、347nm厚度的ZnS层、373nm厚度的Ge层、302nm厚度的ZnS层、276nm厚度的Ge层、331nm厚度的ZnS层、350nm厚度的Ge层、390nm厚度的ZnS层、388nm厚度的Ge层、571nm厚度的ZnS层、281nm厚度的Ge层、751nm厚度的ZnS层、366nm厚度的Ge层、462nm厚度的ZnS层、439nm厚度的Ge层、806nm厚度的ZnS层、178nm厚度的Ge层、963nm厚度的ZnS层、427nm厚度的Ge层、311nm厚度的ZnS层、410nm厚度的Ge层、489nm厚度的ZnS层、546nm厚度的Ge层和358nm厚度的ZnS层;所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:145nm厚度的Ge层、290nm厚度的ZnS层、105nm厚度的Ge层、1953nm厚度的ZnS层、357nm厚度的Ge层、145nm厚度的ZnS层、607nm厚度的Ge层、2262nm厚度的ZnS层、982nm厚度的Ge层、247nm厚度的ZnS层、247nm厚度的Ge层、631nm厚度的ZnS层、1257nm厚度的Ge层、1587nm厚度的ZnS层、105nm厚度的Ge层、558nm厚度的ZnS层、292nm厚度的Ge层、145nm厚度的ZnS层、134nm厚度的Ge层、2315nm厚度的ZnS层、897nm厚度的Ge层、195nm厚度的ZnS层、312nm厚度的Ge层、590nm厚度的ZnS层、1263nm厚度的Ge层、1976nm厚度的ZnS层、168nm厚度的Ge层、298nm厚度的ZnS层、477nm厚度的Ge层和1175nm厚度的ZnS层。
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