[实用新型]通过带为7600-9900nm的红外测温滤光片有效

专利信息
申请号: 201320777889.5 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN203551827U 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 王继平;吕晶;刘晶 申请(专利权)人: 杭州麦乐克电子科技有限公司
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20;G01J5/08
代理公司: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人: 周豪靖
地址: 311188 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型所设计的一种测试精度高、能极大提高信噪比的通过带为7600-9900nm的红外测温滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、ZnS为第一镀膜层和以Ge、ZnS为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,该通过带为7600-9900nm的红外测温滤光片,其在温度测量过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度。该滤光片50%Cut on=7.6±0.05um,50%Cut off=9.9±0.05um;1500~7100nm、10300~12000nm T≤3%;8000~9500nm T≥88%;7700~9700nm Tavg≥90%。
搜索关键词: 通过 7600 9900 nm 红外 测温 滤光
【主权项】:
一种通过带为7600‑9900nm的红外测温滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、ZnS为第一镀膜层和以Ge、ZnS为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:142nm厚度的Ge层、250nm厚度的ZnS层、175nm厚度的Ge层、223nm厚度的ZnS层、91nm厚度的Ge层、220nm厚度的ZnS层、119nm厚度的Ge层、341nm厚度的ZnS层、185nm厚度的Ge层、275nm厚度的ZnS层、188nm厚度的Ge层、344nm厚度的ZnS层、162nm厚度的Ge层、312nm厚度的ZnS层、199nm厚度的Ge层、314nm厚度的ZnS层、163nm厚度的Ge层、288nm厚度的ZnS层、282nm厚度的Ge层、335nm厚度的ZnS层、369nm厚度的Ge层、243nm厚度的ZnS层、285nm厚度的Ge层、354nm厚度的ZnS层、323nm厚度的Ge层、312nm厚度的ZnS层、359nm厚度的Ge层、363nm厚度的ZnS层、161nm厚度的Ge层、693nm厚度的ZnS层、169nm厚度的Ge层、656nm厚度的ZnS层、283nm厚度的Ge层、685nm厚度的ZnS层、299nm厚度的Ge层、669nm厚度的ZnS层、317nm厚度的Ge层、602nm厚度的ZnS层、388nm厚度的Ge层、783nm厚度的ZnS层、178nm厚度的Ge层、739nm厚度的ZnS层、464nm厚度的Ge层和1078nm厚度的ZnS层;所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:178nm厚度的Ge层、1686nm厚度的ZnS层、981nm厚度的Ge层、283nm厚度的ZnS层、693nm厚度的Ge层、1795nm厚度的ZnS层、613nm厚度的Ge层、631nm厚度的ZnS层、1149nm厚度的Ge层、591nm厚度的ZnS层、760nm厚度的Ge层、304nm厚度的ZnS层、1225nm厚度的Ge层、591nm厚度的ZnS层、684nm厚度的Ge层、1786nm厚度的ZnS层、656nm厚度的Ge层、337nm厚度的ZnS层、922nm厚度的Ge层和720nm厚度的ZnS层。
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