[实用新型]通过带为3600-4000nm的观察图形光谱天文滤光片

摘要

本实用新型所设计的一种信噪比高、稳定性好、有效提高物体温度测量分辨能力和检测精度使用要求的通过带为3600-4000nm的观察图形光谱天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，该通过带为3600-4000nm的观察图形光谱天文滤光片，通过上述的设计，实现了稳定性好，且能适用于物体的温度感应和测量，该滤光片3600～4000nm、Tavg≥85％；1500～3400nm、4200～6500nm Tavg<0.5%，大大提高了信噪比，在用于物体温度的测量和感应时，能有效的提高分辨能力和检测精度，更好的满足实际中的使用要求。

主权项

一种通过带为3600‑4000nm的观察图形光谱天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，其特征是：所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有：355nm厚度的SiO层、138nm厚度的Ge层、261nm厚度的SiO层、151nm厚度的Ge层、405nm厚度的SiO层、178nm厚度的Ge层、406nm厚度的SiO层、154nm厚度的Ge层、266nm厚度的SiO层、143nm厚度的Ge层、404nm厚度的SiO层、193nm厚度的Ge层、702nm厚度的SiO层、416nm厚度的Ge层、638nm厚度的SiO层、231nm厚度的Ge层、722nm厚度的SiO层、401nm厚度的Ge层、586nm厚度的SiO层、257nm厚度的Ge层、898nm厚度的SiO层、310nm厚度的Ge层和352nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有：136nm厚度的SiO层、83nm厚度的Ge层、181nm厚度的SiO层、55nm厚度的Ge层、198nm厚度的SiO层、86nm厚度的Ge层、184nm厚度的SiO层、81nm厚度的Ge层、222nm厚度的SiO层、94nm厚度的Ge层、334nm厚度的SiO层、86nm厚度的Ge层、291nm厚度的SiO层、139nm厚度的Ge层、164nm厚度的SiO层、148nm厚度的Ge层和595nm厚度的SiO层。