[实用新型]质谱仪及其二次离轴检测器有效

专利信息
申请号: 201320782208.4 申请日: 2013-11-27
公开(公告)号: CN203588975U 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 王传博;张小华;商颖健;刘晓超;黄健 申请(专利权)人: 北京普析通用仪器有限责任公司
主分类号: H01J49/40 分类号: H01J49/40;H01J49/02
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 李昕巍;赵根喜
地址: 101200*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提出一种质谱仪及其二次离轴检测器,质谱仪包括离子源、质量分析器及二次离轴检测器,二次离轴检测器用于采集放大质量分析器释放的离子,包括设置于与质量分析器轴向不同方向上的高能打拿极、设置于高能打拿极与质量分析器之间的偏转电极及与高能打拿极轴向相对设置的检测器,其中,二次离轴检测器还包括第一偏转屏蔽罩,第一偏转屏蔽罩罩设于高能打拿极与检测器外部,第一偏转屏蔽罩上设有一第一开孔。本实用新型提出的质谱仪及其二次离轴检测器,采用了二次离轴的结构,第一偏转屏蔽罩的设置有效屏蔽了外界电场对质谱仪及其二次离轴检测器的干扰。进而使本实用新型提出的质谱仪及其二次离轴检测器具有较高的灵敏度及较长的使用寿命。
搜索关键词: 质谱仪 及其 二次 检测器
【主权项】:
一种二次离轴检测器,用于采集放大质谱仪的质量分析器(1)释放的离子,包括设置于与所述质量分析器(1)轴向不同方向上的高能打拿极(5)、设置于所述高能打拿极(5)与所述质量分析器(1)之间的偏转电极(4)及与所述高能打拿极(5)轴向相对设置的检测器(6),其特征在于,所述二次离轴检测器还包括:第一偏转屏蔽罩(8),罩设于所述高能打拿极(5)与检测器(6)外部,所述第一偏转屏蔽罩(8)上设有一第一开孔(80)。
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