[实用新型]PWM电源激励下硅钢片磁特性的测量系统有效

专利信息
申请号: 201320797269.8 申请日: 2013-12-05
公开(公告)号: CN203606476U 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 王晓燕;胡守天;骆忠汉;杨皓 申请(专利权)人: 武汉钢铁(集团)公司
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 胡镇西;李满
地址: 430080 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种PWM电源激励下硅钢片磁特性的测量系统,包括控制计算机、数据采集卡、低通滤波器、功率放大器和隔离变压器、磁轭、励磁绕组、层压木垫块、线圈支架、保护套、磁通密度测量线圈、线圈绝缘骨架、第一磁场强度测量线圈和第二磁场强度测量线圈,励磁绕组接入隔离变压器,磁通密度测量线圈通过第一隔离放大器接入数据采集卡,第一磁场强度测量线圈通过第二隔离放大器接入数据采集卡,第二磁场强度测量线圈通过第三隔离放大器接入数据采集卡。本实用新型的结构简单,绕组加工制造难度低,省去了空气补偿线圈,降低了系统的制造成本。
搜索关键词: pwm 电源 激励 硅钢片 特性 测量 系统
【主权项】:
一种PWM电源激励下硅钢片磁特性的测量系统,它包括第一隔离放大器(6)、第二隔离放大器(7)、第三隔离放大器(8)以及依次连接的控制计算机(1)、数据采集卡(2)、低通滤波器(3)、功率放大器(4)和隔离变压器(5),其特征在于:它还包括C型磁轭(15)、分别绕在C型磁轭(15)两端部的两个励磁绕组(16)、分别设在C型磁轭(15)两端面的两个层压木垫块(12)、固定在C型磁轭(15)开口内部的磁场强度测量线圈支架(14)、固定在磁场强度测量线圈支架(14)上且能套住被测硅钢片(9)的磁通密度测量线圈(18)、固定在磁场强度测量线圈支架(14)上的第一磁场强度测量线圈(10)和第二磁场强度测量线圈(13),其中,所述第一磁场强度测量线圈(10)位于磁通密度测量线圈(18)的下方,所述第二磁场强度测量线圈(13)位于第一磁场强度测量线圈(10)的下方;所述两个励磁绕组(16)连接隔离变压器(5),所述磁通密度测量线圈(18)的信号输出端通过第一隔离放大器(6)接入数据采集卡(2)的信号输入端,第一磁场强度测量线圈(10)的信号输出端通过第二隔离放大器(7)接入数据采集卡(2)的信号输入端,所述第二磁场强度测量线圈(13)的信号输出端通过第三隔离放大器(8)接入数据采集卡(2)的信号输入端。
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