[实用新型]一种提高正向耐压的可控硅台面结构有效
申请号: | 201320824883.9 | 申请日: | 2013-12-16 |
公开(公告)号: | CN203659873U | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 耿开远;周健;刘宗贺;李建新 | 申请(专利权)人: | 启东吉莱电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/74 | 分类号: | H01L29/74;H01L29/06;H01L21/3213 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 卢海洋 |
地址: | 226200 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开一种提高正向耐压的可控硅台面结构,包括阴极区、短基区、长基区、台面槽和硼穿通扩散区,所述硼穿通扩散区设于长基区的四周,每个硼穿通扩散区上开有穿通环,所述台面槽内填充有玻璃粉,台面槽的台面结构形成正角。此种正角台面结构,使得正向耐压大大提高,且形成的正角角度可根据需求调整,大大提高了可控硅的耐压水平。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 正向 耐压 可控硅 台面 结构 | ||
【主权项】:
一种提高正向耐压的可控硅台面结构,包括阴极区、短基区、长基区、台面槽和硼穿通扩散区,所述硼穿通扩散区设于长基区的四周,每个硼穿通扩散区上开有穿通环,所述台面槽内填充有玻璃粉,其特征在于:所述台面槽的台面结构形成正角。
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