[实用新型]电子元件多面取像检测装置

摘要

本实用新型涉及一种电子元件多面取像检测装置，其于基座上规划一水平方向的电子元件输送路径，提供多个待检测电子元件沿该电子元件输送路径接续被输送通过，设于基座中的反光盆搭配第一、第二光源对待检测电子元件提供照明，另外以第一取像组件由下向上通过反光盆底部撷取沿电子元件输送路径移动的待检测电子元件底部影像，以多个第二取像组件由下往上撷取反射镜中通过反光盆的侧取像孔反射的待检测电子元件周边侧面的影像，再输送至检测系统比对分析判断是否符合良品，其中，利用待检测电子元件接续沿水平方向直线通过，而第一、第二取像组件接续对待检测电子元件撷取其多面影像的技术手段，提升电子元件多面取像检测作业的执行效率。

主权项

一种电子元件多面取像检测装置，其特征在于：所述装置包含： 一基座，其顶部上方上界定有一水平的电子元件输送路径； 一反光盆，其以盆口朝上的方式装设于基座中，且位于电子元件输送路径下方，反光盆的周壁内表面具有反光表面，反光盆周壁底部设有一底取像孔，反光盆周壁侧面设有多个侧取像孔； 一第一光源，其设置于反光盆底部而对应于底取像孔，用以通过反光盆对反光盆盆口上方的电子元件输送路径提供照明； 一第二光源，其包含多个发光组件以及两个集光罩，所述多个发光组件组装设置于反光盆顶部，且分布于电子元件输送路径两侧，所述两个集光罩分布设于电子元件输送路径两侧，且罩设于发光组件外侧，用以对电子元件输送路径提供照明； 多个反射镜，其分布设置于基座上且环绕排列于反光盆外围，每一反射镜分别对应反光盆周壁上的侧取像孔； 一第一取像组件，其装设于基座中，且第一取像组件以镜头垂直朝上的方式伸向第一光源及反光盆底部的底取像孔，用以对沿电子元件输送路径移动的待测电子元件撷取底面影像；以及 多个第二取像组件，其分布设于基座中且环绕排列于第一取像组件外围，所述多个第二取像组件的镜头分别对应于反射镜，用以经由反射镜通过反光盆周壁的侧取像孔对沿电子元件输送路径移动的待测电子元件撷取周边侧面的影像。