[实用新型]一种晶元加工装置有效

专利信息
申请号: 201320845049.8 申请日: 2013-12-19
公开(公告)号: CN203674180U 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 王丽荣;周厉颖 申请(专利权)人: 北京七星华创电子股份有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 100015 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种晶元加工装置,包括:微环境腔和排气装置,排气装置包括排气管路、气动阀、气动部件和负压管路,其中排气管路作为微环境腔排气的出口,与气动阀的第一端口连接,且气动阀的第二端口和第三端口分别与气动部件和负压管路连接,排气装置通过排气管路与微环境腔连通。工作状态过程中,将气动阀打开,负压管路与微环境腔通过排气管路之间连通,控制负压装置将微环境腔中的气体排出,并将颗粒由负压装置通过排气管路排出到微环境腔之外,因此能将运动部件产生的颗粒及时从微环境腔中排出,避免颗粒对晶元产生污染,提高晶元的质量,同时借助气体的流动性还有利于运动部件的散热。
搜索关键词: 一种 加工 装置
【主权项】:
一种晶元加工装置,其特征在于,具体包括:微环境腔和排气装置,排气装置包括排气管路、气动阀、气动部件和负压管路,其中排气管路作为微环境腔排气的出口,与气动阀的第一端口连接,且所述气动阀的第二端口和第三端口分别与气动部件和负压管路连接,所述排气装置通过排气管路与所述微环境腔连通。
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