[实用新型]探针测试治具有效

专利信息
申请号: 201320854290.7 申请日: 2013-12-23
公开(公告)号: CN203759063U 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 徐奎;魏朝刚;张月华 申请(专利权)人: 昆山国显光电有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G09G3/00
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 苏培华
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种探针测试治具,用于测试包括多个屏体端子的屏体,包括绝缘基座及固定于绝缘基座上的若干探针和若干引线,绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面,若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成,若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成,若干探针与第二表面的若干引线一一对应电性连接,相邻两根探针之间的间距小于相邻两个屏体端子的间距,该探针测试治具上若干探针所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子所占用的面积。本实用新型探针测试治具,能够满足不同规格屏体点屏测试需求,当某一根或部分探针损坏时,不影响整套治具的正常使用,可节省维修或重做的时间和费用,缩短新产品开发周期,提高新产品开发的效率。
搜索关键词: 探针 测试
【主权项】:
一种探针测试治具,用于测试包括多个屏体端子的屏体,其特征在于,所述探针测试治具包括绝缘基座及固定于所述绝缘基座上的若干探针和若干引线,所述绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面,所述若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成,所述若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成,所述若干探针与第二表面的若干引线一一对应电性连接,相邻两根探针之间的间距小于相邻两个屏体端子的间距,该探针测试治具上若干探针所占用的面积大于所述屏体上多个屏体端子所占用的面积。 
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