[实用新型]平面检测仪有效
| 申请号： | 201320858397.9 | 申请日： | 2013-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN203744943U | 公开（公告）日： | 2014-07-30 |
| 发明（设计）人： | 徐业培 | 申请（专利权）人： | 南京德朔实业有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 211106 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种平面检测仪，包括：主机体，主机体包括外壳，能向基准方向发射检测光线的检测光源，能将检测光源所发射的检测光线向第一方向折射的第一光路元件，能将检测光源所发射的检测光线向与第一方向倾斜相交的第二方向折射的第二光路元件，第一光路元件和第二光路元件均设置在检测光源的检测光线的光路上，第一光路元件的第一方向和第二光路元件的第二方向倾斜相交且它们均与检测光源的基准方向倾斜相交；本实用新型的有益之处在于：通过两道光路不同的检测光线交叉的方式检测平面的平整程度，在检测面不平处，检测光线分离，这样可以快速检测出不平整的区域，该平面检测仪结构合理、检测效率高，适用于中等面积的平面度检测。 | ||
| 搜索关键词： | 平面 检测 | ||
【主权项】：
一种平面检测仪，包括：主机体，所述主机体包括外壳，其特征在于，所述主机体还包括：能向基准方向发射检测光线的检测光源，能将所述检测光源所发射的检测光线向第一方向折射的第一光路元件，能将所述检测光源所发射的检测光线向与所述第一方向倾斜相交的第二方向折射的第二光路元件，所述第一光路元件和第二光路元件均设置在所述检测光源的检测光线的光路上，所述第一光路元件的第一方向和第二光路元件的第二方向倾斜相交且它们均与所述检测光源的基准方向倾斜相交。
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