[实用新型]倒角尺寸光学测量设备有效

专利信息
申请号: 201320870277.0 申请日: 2013-12-26
公开(公告)号: CN203704861U 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 刘建华;杜荣钦;胡田军;仝敬烁;尹建刚;高云峰 申请(专利权)人: 深圳市大族激光科技股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518055 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及光学测量技术领域,具体涉及一种自动化、非接触式的倒角尺寸光学测量设备,包括机架、上位测量装置、下位测量装置、定位装置以及工控系统;机架上端设有工作台;上位测量装置设置于工作台的上方;下位测量装置设置于工作台的下方;定位装置设置于工作台上;工控系统设置于机架内。本实用新型克服了现有倒角尺寸检测方式的缺陷,具有精度高、人为干扰因素小、成本低和效率高的特点。
搜索关键词: 倒角 尺寸 光学 测量 设备
【主权项】:
一种倒角尺寸光学测量设备,其特征在于:包括机架,所述机架上端设有工作台;上位测量装置,设置于所述工作台上方,用于测量待测工件上表面的倒角;下位测量装置,设置于所述工作台下方,用于测量待测工件下表面的倒角;定位装置,设置于所述工作台上,用于固定待测工件;工控系统,设置于所述机架内,用于控制所述上位测量装置、下位测量装置和定位装置,以及计算分析所述上位测量装置和下位测量装置反馈的数据。
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