[实用新型]双通道高能X射线透视成像系统有效

专利信息
申请号: 201320879291.7 申请日: 2013-12-30
公开(公告)号: CN203772764U 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 唐华平;陈志强;唐传祥;陈怀璧;李元景;赵自然;刘耀红;孙尚民;阎忻水;秦占峰 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司;清华大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 江鹏飞;汪扬
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型通过电子加速器、屏蔽准直装置、第一探测器阵列、第二探测器阵列、各种机械组合结构的设计,利用仅一台电子加速器、两组X射线束流和两组探测器系统,同时对两个通道内的受检查对象进行透视成像。根据本实用新型的双通道高能X射线透视成像系统可以设计为固定式、组合式、轨道移动式或车载移动式等具体形势,具有结构简单、成本低、功能强、图像质量好等优点。
搜索关键词: 双通道 高能 射线 透视 成像 系统
【主权项】:
 一种双通道高能X射线透视成像系统,包括:单台高能电子加速器、屏蔽准直装置、第一检查通道、第二检查通道、第一探测器阵列、第二探测器阵列、电源与控制子系统、信号分析与图像处理子系统;其中,高能电子加速器包括电子发射单元、电子加速单元、靶,产生的电子束流具有2MeV以上的能量;屏蔽准直装置包括屏蔽结构和至少两个准直器;两个准直器分别设置在电子束流的轴线的两侧;所述第一检查通道和第二检查通道分别位于电子加速器的两侧;第一准直器、第一探测器阵列与电子束流打靶的靶点处于第一平面内,第二准直器、第二探测器阵列与电子束流打靶的靶点处于第二平面内。
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