[实用新型]棒材相控阵检测系统性能评价试块有效
| 申请号： | 201320890924.4 | 申请日： | 2013-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN203688508U | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 李杨;高东林;陈泉;吴海燕;张伦兆;吴洋林;袁琪 | 申请（专利权）人： | 北京有色金属研究总院 |
| 主分类号： | G01N29/30 | 分类号： | G01N29/30 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 朱丽华 |
| 地址： | 100088 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种棒材相控阵检测系统性能评价试块，有一组轴向系列样块和/或一组周向系列样块；它们均由待测棒材或与待测棒材直径相同或相近的棒材加工而成；一组轴向系列样块中具有一个以上的轴向样块，各轴向样块由棒材纵剖截取而成，其纵切面上具有人工缺陷组；一组周向系列样块中具有一个以上的周向样块，各周向样块为由棒材横截而成的圆饼状样块，各周向样块横截面上具有人工缺陷组；各轴向样块和周向样块与相控阵探头的接触面为一曲面，该曲面的曲率与待测棒材曲面曲率相同或相近。其通用性强，可适用于棒材相控阵检测系统的参数研究；能系统地对棒材相控阵检测系统（包含晶片曲面分布式探头或联结曲面楔块探头）的多种性能指标做出评价。 | ||
| 搜索关键词： | 相控阵 检测 系统 性能 评价 | ||
【主权项】：
一种棒材相控阵检测系统性能评价试块，其特征在于包括有一组轴向系列样块和/或一组周向系列样块；所述的轴向系列样块和周向系列样块均由待测棒材或与待测棒材直径相同或相近的棒材加工而成；所述的一组轴向系列样块中具有一个以上的轴向样块，各轴向样块由所述棒材纵剖截取而成，其具有的两侧纵切面的间距与相控阵探头的阵列宽度一致；所述各轴向样块的纵切面上至少具有一种人工缺陷组；所述的一组周向系列样块中具有一个以上的周向样块，各周向样块为由所述棒材横截而成的圆饼状样块，圆饼状样块的厚度与相控阵探头的阵列宽度一致；所述的各周向样块横截面上至少具有一种人工缺陷组；各轴向样块和周向样块与相控阵探头的接触面为一曲面，该曲面的曲率与待测棒材曲面曲率相同或相近。
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