[发明专利]料位测量装置有效

专利信息
申请号: 201380006843.6 申请日: 2013-01-25
公开(公告)号: CN104081170B 公开(公告)日: 2016-11-23
发明(设计)人: 维尔纳·霍赫 申请(专利权)人: IFM电子股份有限公司
主分类号: G01F23/26 分类号: G01F23/26;H03K17/95
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 邓云鹏
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 料位测量装置包括控制单元1,控制单元1包括用于产生传输信号S的高频发生器4、放大器5a、放大器5b和估算单元,料位测量装置还包括与控制单元1空间分离的探针2,探针2包括测量阻抗6、参考阻抗7、第一整流器8a和第二整流器8b,料位测量装置还包括位于控制单元1和探针2之间的连接线3,其中第一整流器8a侦测探针2内的传输信号S的电压,将该电压作为第一直流电压信号发送至控制单元1,第二整流器8b通过测量电阻9a和9b将探针2内的探针电流转换成第二直流电压信号,两个信号均供控制单元1用以判断料位,其中整流器8a和8b彼此热耦合。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
一种用于判断容器中介质的料位的料位测量装置,包括控制单元(1),所述控制单元(1)包括用于产生传输信号(S)的高频发生器(4)、第一放大器(5a)、第二放大器(5b)和用于估算探针信号的估算单元(μC),所述探针信号已经过所述第一放大器(5a)和所述第二放大器(5b)放大,所述料位测量装置还包括与所述控制单元(1)空间分离的探针(2),所述传输信号(S)应用于所述探针(2),所述探针(2)包括测量阻抗(6)、用于校准和温度补偿且不受所述介质影响的参考阻抗(7)、第一整流器(8a)和第二整流器(8b),所述料位测量装置还包括多芯的连接线(3),用于在所述控制单元(1)和所述探针(2)之间传送信号,利用传输信号(S)激励探针(2),并将所述探针信号发送至所述控制单元(1),其特征在于,所述第一整流器(8a)判断所述探针(2)内的所述传输信号(S)的电压,并将所述电压转换成第一直流电压信号,通过所述多芯的连接线(3)发送至所述控制单元(1)的所述第一放大器(5a);所述第二整流器(8b)通过测量电阻(9a、9b)将所述探针(2)内的探针电流转换成第二直流电压信号,并通过所述多芯的连接线(3)将所述第二直流电压信号发送至所述第二放大器(5b)以判断所述探针(2)的阻抗,两个直流电压信号均通过所述多芯的连接线(3)发送至所述控制单元(1)以判断料位,其中所述整流器(8a、8b)彼此热耦合。
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