[发明专利]触控面板及位置检测方法在审
| 申请号： | 201380008855.2 | 申请日： | 2013-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN104106028A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 关沢光洋;樱井聪;清水信吉;仓岛茂美 | 申请（专利权）人： | 富士通电子零件有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044;G06F3/045 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 许海兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种触控面板，包含第1导电膜，其具有多个沿一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；第2导电膜，其具有多个沿与所述一个方向大致直交的另一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；以及第3导电膜，所述第1导电膜的分离区域沿所述另一个方向排列，所述第2导电膜的分离区域沿所述一个方向排列，其中，通过所述第1导电膜和所述第2导电膜，进行基于静电容量结合的坐标位置的位置检测，并且通过检测所述第2导电膜和所述第3导电膜的接触位置的电位，进行所述接触的坐标位置的位置检测。 | ||
| 搜索关键词： | 面板 位置 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种触控面板，其特征在于，包括：第1导电膜，其具有多个沿一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；第2导电膜，其具有多个沿另一个方向被形成为较长的长条状的分离区域，所述另一个方向与所述一个方向大致直交；以及第3导电膜，其中，所述第1导电膜的分离区域沿所述另一个方向排列，所述第2导电膜的分离区域沿所述一个方向排列，通过所述第1导电膜和所述第2导电膜，进行基于静电容量结合的坐标位置的位置检测，通过检测出所述第2导电膜和所述第3导电膜的接触位置的电位，进行所述接触的坐标位置的位置检测。
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