[发明专利]光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺有效

专利信息
申请号: 201380009143.2 申请日: 2013-09-10
公开(公告)号: CN104254755B 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 王勇 申请(专利权)人: 王勇
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01C15/06;G01D5/347
代理公司: 深圳市智胜联合知识产权代理有限公司44368 代理人: 李永华,张广兴
地址: 新加坡新加坡大巴窑*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的实施方式包括多种不同类型的光学测量标尺、光学测量装置和用所述光学测量标尺测量位置的方法。在一个实施方式中,一个光学测量标尺包括一个基底和多个标记单元,每一个标记单元固定于标尺的预定位置。每一个标记单元包括多个光学检测的标记元素,每个标记元素有一个元素值,而且每一个元素值被在标记单元内的标记元素的元素值的排列中的任一组数字定义,每一个单元值对应一个物理量。在基底上设有第一方向。物理量包括沿第一方向的在参考位置和预定位置之间的第一距离。
搜索关键词: 光学 测量 系统 测量方法 标尺
【主权项】:
一种光学测量标尺,其特征在于,所述光学测量标尺包括:一个基底,所述基底定义了第一方向;多个标记单元,每一个所述标记单元设置于所述基底的一个预定位置,每一个所述标记单元包括多个光学检测的标记元素,每一个所述标记元素有一个被其光学特性定义的元素值,其中,每一个所述标记单元有一个被在所述标记单元中的每一个标记元素的元素值的排列中的任一组数字确定的单元值,每一个所述单元值对应一个物理量;其中,所述物理量包括沿所述第一方向的在参考位置和所述预定位置之间的第一距离;其中,所述基底定义一个与所述第一方向交叉的第二方向,其中在每一个所述标记单元中的至少二个所述标记元素排列于第一对准行内,所述第一对准行平行于所述第二方向;其中,每一个所述标记单元进一步包括至少二个沿所述第二方向排列的在第二对准行中的标记元素,所述第二对准行和所述第一对准行相隔一定的距离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于王勇,未经王勇许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380009143.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top