[发明专利]闪烁器双阵列的制造方法有效

专利信息
申请号: 201380009495.8 申请日: 2013-03-07
公开(公告)号: CN104115233A 公开(公告)日: 2014-10-22
发明(设计)人: 新田英雄;重川祥;盐田谕;长友浩之 申请(专利权)人: 日立金属株式会社
主分类号: G21K4/00 分类号: G21K4/00;G01T1/20
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种闪烁器双阵列的制造方法,其将具有不同的X射线能量检测灵敏度分布且具有相同间隔的多个平行的槽的第一闪烁器条块阵列和第二闪烁器条块阵列以两者的闪烁器条块沿层叠方向排列的方式借助中间层用树脂层接合起来,将所得到的条块阵列接合体沿着与闪烁器条块交差的方向切断,并利用树脂覆盖所得到的条块阵列接合体片的一方的断面。
搜索关键词: 闪烁 阵列 制造 方法
【主权项】:
一种闪烁器双阵列的制造方法,其特征在于,该闪烁器双阵列的制造方法具有如下工序:将具有隔着平行的槽排列的多个第一闪烁器条块和填充到了上述槽的反射材料用硬化树脂的第一闪烁器条块阵列、以及具有隔着平行的槽排列的多个第二闪烁器条块和填充到了上述槽的反射材料用硬化树脂的第二闪烁器条块阵列以两者的闪烁器条块沿层叠方向排列的方式借助中间层用树脂层接合起来,将所得到的条块阵列接合体在上述第一闪烁器条块和上述第二闪烁器条块的排列方向上切断,利用反射材料用树脂覆盖所得到的多个条块阵列接合体片的切断面,上述第一闪烁器条块的间距与上述第二闪烁器条块的间距相等,上述第一闪烁器条块和上述第二闪烁器条块具有不同的X射线能量检测灵敏度分布。
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