[发明专利]用来测量物体表面的粗糙度的测量设备和方法

摘要

本发明涉及一种测量设备(10.1)，用来测量物体(12)的表面(11)的表面微结构纹理或粗糙度，该测量设备具有销钉状壳体(13.1)，该壳体在其壳体纵轴线(15)的方向上在壳体长度(21)上延伸。在壳体((13.1))中设置有用来检测构成为探针(25)的触碰体在测量方向(26)上的偏转的测量系统(30)，并且设置有用于探针(25)的轴承(24.1)或悬挂装置，该探针在此相对于壳体(13.1)在测量方向(26)上可活动地受到支承。探针(25)平行于壳体纵轴线(15)进行延伸并且具有构成为探测尖部(27)的触碰端部。在探针(25)的范围内在壳体(13.1)的壳体端部(19)的范围内设置有按压和支撑体(35.1)，测量设备(10.1)通过该按压和支撑体可按压和可支撑在表面(11)上。在垂直于壳体纵轴线(15)延伸的假想的横向平面(29)中观察，该壳体(13.1)至少在壳体部段(20)中从所述的壳体端部(19)开始基本上在其整个壳体长度(21)上撑开小于或等于20mm的最大外直径(22)。该探针(25)基本上设置在具有最大外直径(22)的壳体部段(20)的假想的、平行于壳体纵轴线(15)延伸的投影(23)内部。

主权项

一种粗糙度‑测量设备(10.1、10.2、10.3、10.5、10.6)，该测量设备用于测量物体(12)的表面(11)的粗糙度，该测量设备具有构成为探针(25)的触碰体，该触碰体可在测量方向(26)上偏转，并且具有销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)，该销钉状壳体在其壳体纵轴线(15)的方向上在壳体长度(21)上延伸，其中在销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)中设置有用来检测探针(25)在测量方向(26)上的偏转的测量系统(30)，并且设置有固定在销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)上的用于探针(25)的轴承(24.1、24.2)或悬挂装置(24.5、24.6)，并且其中该探针(25)相对于壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)在测量方向(26)上可活动地支承在轴承(24.1、24.2)或悬挂装置(24.5、24.6)上，并且所述探针具有用来检测表面(11)粗糙度、构成为探测尖部(27)的触碰端部，该触碰端部为检测表面(11)的粗糙度而贴靠在该表面(11)上，并且其中在所述探针(25)的范围内在销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)的壳体端部(19)的范围内构造有按压和支撑体(35.1、35.2、35.3、35.5、35.6)，该按压和支撑体能够使粗糙度‑测量设备(10.1、10.2、10.3、10.5、10.6)按压和支撑在所述表面(11)上，所述粗糙度‑测量设备(10.1、10.2、10.3、10.5、10.6)为了测量表面(11)的粗糙度或在测量表面的粗糙度时能够通过该按压和支撑体按压和支撑在所述表面(11)上；其特征在于，所述探针(25)及其探测尖部(27)平行于所述销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)的壳体纵轴线(15)延伸；并且在壳体部段(20)中在垂直于所述壳体纵轴线(15)延伸的假想的横向平面(29)中观察，所述销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)具有小于或等于20mm的最大外部尺寸(22)，该壳体部段从所述的壳体端部(19)开始在销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)的整个壳体长度(21)上延伸，并且其中探针(25)及其探测尖部(27)完全设置在销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)的具有最大外部尺寸(22)的壳体部段(20)的假想的、平行于壳体纵轴线(15)延伸的投影(23)内部，或者在壳体部段(20)中在垂直于所述壳体纵轴线(15)延伸的假想的横向平面(29)中观察，所述销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)撑开小于或等于20mm的最大外直径(22)，该壳体部段从所述的壳体端部(19)开始在销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)的整个壳体长度(21)上延伸，并且其中，探针(25)及其探测尖部(27)完全设置在销钉状壳体(13.1、13.2、13.3、13.5、13.6)的撑开的最大外直径(22)的壳体部段(20)的假想的、平行于壳体纵轴线(15)延伸的投影(23)内部。