[发明专利]LTE TDD 的连接模式间隙测量在审
| 申请号： | 201380011010.9 | 申请日： | 2013-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN104160670A | 公开（公告）日： | 2014-11-19 |
| 发明（设计）人： | J·W·崔;R·N·沙拉 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L25/02 | 分类号： | H04L25/02 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 张扬;王英 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种无线通信的方法包括：从在连接模式间隙期间在测量窗口位置内检测到的至少两个子帧中选择三个或更多个参考信号符号。所选择的参考信号符号是从至少一个非-MBSFN子帧的参考信号符号以及特殊子帧的一个参考信号符号中选择的。该方法还包括：组合所选择的参考信号符号；以及至少部分地基于所述组合的结果来估计参考信号接收功率(RSRP)。 | ||
| 搜索关键词： | lte tdd 连接 模式 间隙 测量 | ||
【主权项】：
一种无线通信的方法，包括：从在连接模式间隙期间在测量窗口位置内检测到的至少两个子帧中选择至少三个参考信号符号，所述至少三个参考信号符号是从至少一个非多媒体广播单频网络(非‑MBSFN)子帧的参考信号符号以及特殊子帧的参考信号符号中选择的；组合所述至少三个参考信号符号；以及至少部分地基于所述组合的结果来估计参考信号接收功率(RSRP)。
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