[发明专利]用于试剂卡分析器的校准方法有效
| 申请号： | 201380013123.2 | 申请日： | 2013-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN104160251B | 公开（公告）日： | 2018-03-30 |
| 发明（设计）人： | C.T.齐默勒;A.泽尔彻尔;J.A.戈德斯堡 | 申请（专利权）人： | 西门子医疗保健诊断公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 马红梅,徐红燕 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于校准试剂分析器的成像器的方法，包括在成像器的视场中的第一读取位置处定位干燥试剂垫，第一读取位置被光照源以第一强度照亮；通过成像器检测参考光信号，参考光信号指示第一读取位置处的干燥试剂垫的第一反射率值；在第二读取位置处定位干燥试剂垫，第二读取位置以不同于第一强度的第二强度被照亮；通过成像器检测第一光信号，第一光信号指示第二读取位置处的干燥试剂垫的第二反射率值；以及通过处理器，基于参考光信号与第一光信号之间的差异，计算用于第二读取位置处的干燥试剂垫的校准因子。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 试剂 分析器 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种用于校准试剂分析器的成像器的自动化方法，其包括：在成像器的视场中的第一读取位置处定位干燥试剂垫，第一读取位置被光照源以第一强度照亮；通过成像器检测参考光信号，参考光信号指示第一读取位置处的干燥试剂垫的第一反射率值；使干燥试剂垫前进通过成像器的视场中的第二读取位置；在第二读取位置处定位干燥试剂垫，第二读取位置以不同于第一强度的第二强度被照亮；通过成像器检测第一光信号，第一光信号指示第二读取位置处的干燥试剂垫的第二反射率值；以及通过施行处理器可执行代码的处理器，基于参考光信号与第一光信号之间的差异，计算用于第二读取位置处的干燥试剂垫的校准因子。
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