[发明专利]LWIR成像透镜、具有该成像透镜的图像采集系统及相关方法有效
| 申请号： | 201380015315.7 | 申请日： | 2013-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN104364693B | 公开（公告）日： | 2018-06-19 |
| 发明（设计）人： | 杰里米·赫德尔斯顿 | 申请（专利权）人： | 弗莱尔系统贸易比利时公司 |
| 主分类号： | G02B13/14 | 分类号： | G02B13/14 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 顾红霞;何胜勇 |
| 地址： | 比利*** | 国省代码： | 比利时;BE |
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| 摘要： | 成像透镜(250)用于7.5μm–13.5μm(LWIR)的任意子集上的工作波段且包括第一高折射率材料的第一光学元件(210)和第二高折射率材料的第二光学元件(220)。第一光学元件(210)和第二光学元件(220)的至少两个表面(B、E)是光学倍率表面。所有光学倍率表面的最大通光孔径(E)不比与至少55度的视场相对应的图像直径大多于30％。第一和第二高折射率材料(例如硅、锗、硒化锌、硫化锌或硫属化物玻璃)具有在工作波段中大于2.2的折射率和小于75％的每毫米吸收率以及在400nm–650nm的波段中大于75％的每毫米吸收率。 1 | ||
| 搜索关键词： | 光学元件 高折射率材料 成像透镜 吸收率 工作波段 光学倍率 硫属化物玻璃 图像采集系统 大通光孔径 硫化锌 硒化锌 折射率 波段 视场 子集 图像 | ||
【主权项】：
1.一种成像透镜，用于7.5μm–13.5μm的任意子集上的工作波段，所述成像透镜包括：硅的第一光学元件，所述第一光学元件具有前表面和后表面；以及硅的第二光学元件，所述第二光学元件具有前表面和后表面，所述第二光学元件的所述前表面面对所述第一光学元件的所述后表面，其中，所述第一光学元件和所述第二光学元件的至少两个表面是光学倍率表面，所有光学倍率表面的最大通光孔径不比所述成像透镜的与55度或更大的视场相对应的像圈的直径大多于30％；所述第一光学元件和所述第二光学元件中的每一个的中心厚度大于500μm且小于1500μm，以及所述第一光学元件和所述第二光学元件是成像透镜中仅有的具有光学倍率表面的元件。
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