[发明专利]自动化测试托盘处理和具有测试托盘的测试系统有效
申请号: | 201380016719.8 | 申请日: | 2013-01-24 |
公开(公告)号: | CN104205784A | 公开(公告)日: | 2014-12-10 |
发明(设计)人: | P·G·帕纳盖斯 | 申请(专利权)人: | 苹果公司 |
主分类号: | H04M1/02 | 分类号: | H04M1/02;H04M1/24 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 陈新 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供了一种测试系统,在该测试系统中待测设备被加载到测试托盘中。每个测试托盘可包括用于将待测设备保持在测试托盘内的夹具。测试托盘可被配置为传输测试托盘识别信息以便跟踪与测试托盘相关联的待测设备。测试托盘可包括被配置为接收计算机控制的加载臂上的对应接合特征部的接合特征部。加载臂可用于将测试托盘和相关联的待测设备移动到测试固定装置以进行测试。接触扩展结构可保持在测试托盘中并可被配置为与待测设备配合。可将接触扩展结构上的接触焊盘与测试固定装置上的对应触点配合以在待测设备和测试固定装置之间形成电连接。 | ||
搜索关键词: | 自动化 测试 托盘 处理 具有 系统 | ||
【主权项】:
用于测试电子设备的测试装置,包括:测试托盘,所述测试托盘被配置为接收所述电子设备,其中所述测试托盘包括多个测试托盘接合特征部,所述多个测试托盘接合特征部被配置为接收计算机控制的加载机上的对应加载机接合特征部;和接触扩展结构,所述接触扩展结构具有第一末端和第二末端,其中所述第一末端包括被配置为与所述电子设备配合的连接器,并且其中所述第二末端包括被配置为与测试站处的触点配合的多个接触焊盘。
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