[发明专利]具有纳米线的光电子半导体结构以及制造这种结构的方法有效

专利信息
申请号: 201380018641.3 申请日: 2013-03-29
公开(公告)号: CN104203807B 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 艾米丽·帕格瓦兹;安-罗兰·贝文寇;威廉·范登艾利 申请(专利权)人: 原子能和替代能源委员会
主分类号: H01L31/0224 分类号: H01L31/0224;H01L31/0352;H01L33/18;H01L33/38;H01L33/40;B82Y20/00;H01L33/00;H01L33/08;H01L33/24;H01L33/32;H01L33/46;B82Y40/00
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 代理人: 武晨燕,徐川
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种光电子半导体结构(100),所述光电子半导体结构(100)包括包括第一表面(111)的半导体基底(110)、成核层(120)和与所述成核层接触的纳米线(160),所述成核层(120)由禁能带高于5eV的宽禁带半导体形成。所述成核层(120)覆盖所述第一表面(111)的被称为成核部分的部分,所述第一表面(111)的不被所述成核层(120)覆盖的部分(114)被称为自由部分。所述结构还包括与所述基底(110)的自由部分(114)接触的导电层(141),所述导电层还围绕所述纳米线(160)的外周与所述纳米线接触。本发明还涉及这种结构(100)的制造方法。
搜索关键词: 具有 纳米 光电子 半导体 结构 以及 制造 这种 方法
【主权项】:
一种光电子半导体结构(100),包括:‑具有第一表面和第二表面(111,112)的半导体基底(110),‑与所述基底(110)的第一表面(111)接触的成核层(120),所述成核层为具有高于5eV的禁能带的宽禁带半导体,纳米线(130)与所述成核层接触,其中,所述结构(100)的特征在于,所述成核层(120)由至少一个垫形成并且在所述第一表面(111)的被称为成核表面的部分(113)上覆盖所述基底(110)的第一表面(111),其中,所述第一表面(111)的不被所述成核层(120)覆盖的部分(114)被称为自由部分,其中,所述结构还包括与所述基底(110)的自由部分(114)接触的导电层(141),并且其中,所述导电层还在所述纳米线(130)的外周上与所述纳米线接触,以便减小所述半导体基底(110)和所述纳米线(130)之间的界面电阻,其中,所述光电子半导体结构(100)进一步包括与半导体基底(110)的第二表面(112)电接触的第一电触头(151)和在所述纳米线的与所述基底(110)相反的末端上与所述纳米线(130)接触的第二电触头(152),以便允许所述纳米线(130)的极化,其中,所述导电层(141)完全被由绝缘材料制成的层(142,170)覆盖。
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