[发明专利]聚合物的测量的分析有效
| 申请号： | 201380020403.6 | 申请日： | 2013-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN104321441B | 公开（公告）日： | 2016-10-19 |
| 发明（设计）人： | 斯图尔特·威廉·里德;詹姆斯·安东尼·克拉克;詹姆斯·怀特;加文·哈珀 | 申请（专利权）人： | 牛津楠路珀尔科技有限公司 |
| 主分类号： | C12Q1/68 | 分类号： | C12Q1/68;B82Y15/00;G01N33/487;G06F19/22 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;张英 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 分析了聚合物通过纳米孔易位过程中进行的聚合物的时序系列的测量。测量取决于纳米孔中的k链节的特性，k链节是聚合物的k个聚合物单元，其中，k是正整数。所述方法包括：从测量系列得出代表测量特性的时序特征的特征向量；以及测定得出的特征向量和至少一种其他特征向量之间的相似性。 | ||
| 搜索关键词： | 聚合物 测量 分析 | ||
【主权项】：
一种分析聚合物通过纳米孔的易位过程中进行的聚合物的时序系列测量的方法，其中，所述测量取决于所述纳米孔中的k链节的特性，k链节是所述聚合物的k个聚合物单元，其中，k是正整数，所述方法包括：从所述系列测量得出代表所述测量的特性的时序特征的特征向量；以及测定所述得出的特征向量和至少一种其他特征向量之间的相似性。
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