[发明专利]能够生成用于扫描测试的测试模式控制信号的集成电路

摘要

提供能够生成用于通过(例如集成电路中的)扫描链进行扫描测试的测试模式控制信号的方法和集成电路的各种实施例。该集成电路包括测试图案检测块(202)、计数器电路(204)和控制电路(206)。该测试图案检测块经配置以接收检测图案(208)，并基于该检测图案检测对应于测试图案的移位阶段的第一图案和对应于测试图案的捕捉阶段的第二图案，并基于该图案的检测而生成触发信号。控制电路基于计数状态生成并控制测试模式控制信号。计数器电路经配置以基于所检测的图案，生成对应于移位阶段、捕捉阶段和时钟信号(209)中的一种的一个或更多个计数状态。

主权项

一种经配置以生成用于通过集成电路中的扫描链进行扫描测试的测试模式控制信号的集成电路，所述集成电路包括：测试图案检测块，其经配置以：接收检测图案；基于所述检测图案，执行对应于测试图案的移位阶段的第一图案的检测和对应于所述测试图案的捕捉阶段的第二图案的检测；并且基于检测到所述第一图案和所述第二图案中的至少一个而生成触发信号；控制电路，其耦合到所述测试图案检测块，所述控制电路经配置以接收所述触发信号并基于对应于所述移位阶段的一个或更多个计数状态和对应于所述捕捉阶段的一个或更多个计数状态生成所述测试模式控制信号并控制所述测试模式控制信号；以及计数器电路，其耦合到所述控制电路，所述计数器电路经配置以基于所述第一图案和所述第二图案中的至少一个图案，生成对应于所述移位阶段和时钟信号的一个或更多个计数状态以及对应于所述捕捉阶段和所述时钟信号的一个或更多个计数状态。