[发明专利]使用近场光学力的方法无效
| 申请号： | 201380025045.8 | 申请日： | 2013-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN104487821A | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | R·哈特;B·科德维斯 | 申请（专利权）人： | 微流控光学公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 赵蓉民;张全信 |
| 地址： | 美国宾夕*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 描述了使用近场光研究、探寻、分析和探测颗粒、物质和类似物的方法。描述了使用近场光识别颗粒、物质和类似物的结合配偶体、调制物、抑制剂和类似物的方法。在某些实施方式中，该方法包括固定或陷俘颗粒、物质和类似物。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 近场 学力 方法 | ||
【主权项】：
测量物质的至少一种性质的方法，所述方法包括：在光阱的近场光附近定位物质；从光源引导光至所述物质；探测所述光对所述物质的影响；并且基于所探测的影响测量所述物质的至少一种性质。
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