[发明专利]用于采样过程的去干扰的方法以及用于实施该方法的装置有效
| 申请号： | 201380026100.5 | 申请日： | 2013-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN104604138B | 公开（公告）日： | 2017-12-08 |
| 发明（设计）人： | T·武赫特;M·卡利施 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/00 | 分类号： | H03M1/00;H03M1/06;H04B1/00;G01B9/02;G11B27/36;H03M1/12;H03M1/18;H04L25/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 郭毅 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 根据本发明提供一种用于采样过程的去干扰的方法，其中所述方法包括以采样频率f(17)采样模拟信号(16)的方法步骤以及确定是否存在干扰振幅(20)的方法步骤。所述方法的特征在于，当存在干扰振幅(20)时增加或减小所述采样频率f(17)并且以借助增大的或减小的采样频率来采样所述模拟信号(16)的方法步骤重新开始所述方法。此外提供一种用于实施所述方法的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 采样 过程 干扰 方法 以及 实施 装置 | ||
【主权项】：
一种用于采样过程的去干扰的方法，其中，所述方法包括以下方法步骤：以采样频率f(17)采样模拟有用信号(16)；模拟/数字转换经采样的有用信号(38)；确定是否存在干扰振幅(20)，其中，仅当干扰振幅大于在所述方法的范畴内实施的模拟/数字转换的噪声(3)时并且当经采样的有用信号(38)的频谱的基频带(1)中存在干扰振幅(20)时，才存在干扰振幅(20)，其中，所述基频带(1)在频率范围0*f至f/2上延伸，当存在干扰振幅(20)时，增大或减小所述采样频率f(17)，其中，以借助增大的或减小的采样频率(17)采样所述模拟有用信号(16)的方法步骤重新开始所述方法，其特征在于，进行连续地以预确定的、恒定的量值Δf在具有始终相同的符号的方向上增大或减小所述采样频率f(17)直至阈值fg(15)的步骤。
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