[发明专利]用于测量气体的质量流率的方法和设备

摘要

提供一种用于测量气体的质量流率的量计，量计包括导管，在使用中，气体流过导管，导管具有限流孔，在使用中，通过限流孔而出现扼流，限流孔将导管分成在所述孔上游的上游部分和在所述孔下游的下游部分，量计进一步包括传感器组件，传感器组件包括第一压电晶体振荡器，其在所述上游部分中，使得在使用量计时，所述第一压电振荡器与所述气体接触；第二压电晶体振荡器，其在所述下游部分中，使得在使用量计时，所述第二压电振荡器与所述气体接触，所述传感器组件布置成驱动第一压电晶体振荡器和第二压电晶体振荡器，使得第一压电晶体振荡器和第二压电晶体振荡器中的各个以相应的共振频率共振；测量第一压电振荡器的共振频率和第二压电振荡器的共振频率；以及根据第一压电振荡器的共振频率和第二压电振荡器的共振频率而确定通过所述孔的气体的质量流率。

主权项

一种测量通过孔的气体的质量流率的方法，所述方法使用与所述孔上游的气体接触的第一压电晶体振荡器和与所述孔下游的气体接触的第二压电晶体振荡器，并且所述方法包括；a)驱动所述第一压电晶体振荡器和所述第二压电晶体振荡器，使得所述第一压电晶体振荡器和所述第二压电晶体振荡器中的各个以相应的共振频率共振；b)测量所述第一压电晶体振荡器的共振频率和所述第二压电晶体振荡器的共振频率；c)根据所述第一压电晶体振荡器的共振频率和所述第二压电晶体振荡器的共振频率来确定通过所述孔的气体的质量流率，包括根据所述第一压电晶体振荡器的共振频率和所述第二压电晶体振荡器的共振频率而确定所述孔上游的气体的密度、所述孔下游的气体的密度和所述孔上游的气体的密度与所述孔下游的气体的密度的比；以及根据所述比而确定是否存在扼流。