[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 201380027466.4 | 申请日： | 2013-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN104335051A | 公开（公告）日： | 2015-02-04 |
| 发明（设计）人： | 吉川惠子;牧野彰久 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N21/01;G01N21/49;G01N21/82;G01N35/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘建 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 为了确认光量变动，从光源的正面进行检测的结构是最佳的，然而在存在有多个光源的情况下，需要与光源的数量相应的光量检查用的检测器，从而导致装置结构复杂化。在多个检测部所共同使用的反应容器运送机构(117)设置光源光量检查用检测器(130)，通过该检测器(130)进行光源(124)的光量检查。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种自动分析装置，其特征在于，具备：多个检测部，其具备载置供试料与试剂发生反应的反应容器的反应容器设置部；光源，其设置于所述反应容器设置部的底部，并照射光；第一检测器，其设置于所述反应容器设置部，并对从所述光源照射的光的来自所述反应容器的散射光进行检测；反应容器运送机构，其把持所述反应容器，进行所述反应容器的运送以及设置，并共用于所述多个检测部；第二检测器，其设置于所述反应容器运送机构，并对从所述光源照射的光进行检测。
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