[发明专利]用于对材料特性进行测量的传感器设备无效
| 申请号： | 201380028557.X | 申请日： | 2013-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN104364638A | 公开（公告）日： | 2015-02-18 |
| 发明（设计）人： | P.莎马;M.K.科伊蒂塔米塔尔;A.C.谢拉-瓦德;S.M.N.巴特;V.韦拉于罕 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 叶晓勇;姜甜 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种材料组分传感器包括设置成对可能是多相组合物的材料进行探测的一个或多个超材料辅助传感器。信号源在射频(RF)信号的预期范围、微波信号的预期范围、或RF信号与微波信号的组合中对至少一个超材料辅助天线进行激励。数据处理单元被编程为响应于来自至少一个激励的超材料辅助天线的发射能量、由至少一个超材料辅助天线接收到的反射能量、频率偏移数据、或发射能量、反射能量与频率偏移的组合基于幅度数据、相位数据、频率偏移数据、或幅度数据、相位数据与频率偏移数据的组合对与被探测材料相关联的材料组分分率进行估计。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 材料 特性 进行 测量 传感器 设备 | ||
【主权项】：
一种材料组分测量的方法，所述方法包括：提供至少一个超材料辅助传感器，每一个传感器都包括构造成电磁(EM)能量的发射器、EM能量的接收器、或其组合的至少一个天线；将至少一个超材料辅助传感器进行放置以对材料进行探测；在一个或多个频率下经由信号源对至少一个超材料辅助传感器进行激励；响应于所述传感器激励对发射能量级、反射能量级、频率偏移、或其组合进行测量；以及响应于所述发射能量级、所述反射能量级、测量到的频率偏移、或其组合，应用传递函数以便经由可编程计算装置或可编程数据处理单元、相位数据、频率偏移数据、或其组合对与被探测材料相关联的一个或多个材料分率进行估计。
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