[发明专利]基于离子阱的双极性离子分析与检测的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201380029236.1 申请日: 2013-01-31
公开(公告)号: CN104335323B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 徐伟;贺木易;江游;黄泽建;熊行创;方向 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: H01J49/42 分类号: H01J49/42
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司11438 代理人: 于宝庆,王莹
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 基于离子阱的双极性离子分析与检测的装置和方法,包括多个离子阱的电极;射频电压源,用于给离子阱的电极施加射频电压以形成射频电场;直流电压源,用于给离子阱的不同电极施加直流电压以形成偏置电场,位于离子阱中的正离子和负离子在偏置电场作用下发生分离;在正离子出射的离子阱的电极外设置检测正离子的第一检测器;在负离子出射的离子阱的电极外设置检测负离子的第二检测器。可以以采用二极场直流电压检测模式和四极场直流电压检测模式。改进了传统生物质谱方法中单一的正离子或负离子操作模式,使正、负离子模式同时进行,在不损失分辨率情况下,提高分析速度,减少样品用量,改善样品定量分析准确性。
搜索关键词: 基于 离子 极性 分析 检测 装置 方法
【主权项】:
一种基于离子阱的双极性离子分析与检测的装置,包括:离子阱,离子阱包括多个电极;射频(RF)电压源,用于给离子阱的电极施加射频电压(V)以形成射频电场;直流电压源,用于给离子阱的不同电极施加直流电压(U)以形成偏置电场,位于离子阱中的正离子和负离子在偏置电场作用下发生分离;在正离子出射的离子阱的电极外设置检测正离子的第一检测器;在负离子出射的离子阱的电极外设置检测负离子的第二检测器;其中,所述离子阱的不同电极为离子阱同一轴向的两个不同电极,所述给离子阱的不同电极施加直流电压以形成偏置电场为给离子阱的同一轴向的两个不同电极分别施加大小相等或不等但极性相反的正直流电压和负直流电压以形成偏置电场,位于离子阱中的正离子和负离子在偏置电场作用下发生分离并分别向与自身极性相反的电极靠近,正离子向施加负直流电压的电极靠近,负离子向施加正直流电压的电极靠近;所述双极性离子分析与检测的装置还包括激发交流电压源,在正离子和负离子在偏置电场作用下发生分离之后,激发交流电压源给所述同一轴向的两个不同电极施加激发交流电压(AC)以形成激发交流电场,已分离的正离子和负离子在激发交流电场的作用下分别从离子阱的不同电极出射,离开离子阱,在所述离子阱同一轴向的两个不同电极上有开口,所述离子从所述开口出射;正离子从从施加负直流电压的电极端出射并被第一检测器检测,负离子从施加正直流电压的电极端出射并被第二检测器检测。
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