[发明专利]用于补偿光纤光学测量装置的方法和光纤光学测量装置

摘要

本发明提供一种用于补偿例如温度补偿被设计来检测力学量的光纤光学测量系统的方法。第一和第二光纤Bragg光栅分别具有Bragg波长，其中以一次光照射光纤Bragg光栅。在以力学量作用于第一和第二光纤Bragg光栅之后，通过所述力学量改性所述光纤Bragg光栅的Bragg波长。借助于光学滤波机构，通将过所述一次光引起并且通过光纤Bragg光栅的Bragg波长根据所述力学量而改性的第一和第二二次光的滤波如此实现，即其中第一光纤Bragg光栅的Bragg波长位于在上升滤波沿的范围中，而第二光纤Bragg光栅的Bragg波长位于在光学滤波机构的下降滤波沿的范围中。在检测经滤波的第一和第二二次光的强度之后将其进行比较，紧接着可由强度比较确定所述力学量。

主权项

一种用于补偿被设计来检测力学量的光纤光学测量系统的方法，其包括：在所述光纤光学测量系统中提供第一和至少一个第二光纤Bragg光栅，其分别具有一个Bragg波长；以一次光照射所述光纤Bragg光栅；如此以所述力学量作用于所述第一和第二光纤Bragg光栅，使得通过所述力学量改性所述光纤Bragg光栅的所述Bragg波长，其中所述第一和至少第二光纤Bragg光栅以相同程度由变量影响而以不同程度由所述力学量影响；借助于具有上升和下降的滤波沿的光学滤波机构将第一和第二二次光滤波，所述第一和第二二次光通过所述一次光引起并且通过所述光纤Bragg光栅的所述Bragg波长根据所述力学量而改性，其中所述第一光纤Bragg光栅的所述Bragg波长位于在所述光学滤波机构的所述上升滤波沿的范围中，而所述第二光纤Bragg光栅的所述Bragg波长位于在所述光学滤波机构的所述下降滤波沿的范围中；检测经滤波的所述第一和第二二次光的强度；分析处理经滤波的所述第一和第二二次光的经检测的所述强度，其中经滤波的所述第一和第二二次光的经检测的所述强度的分析处理包括对经滤波的所述第一二次光的所述强度和经滤波的所述第二二次光的所述强度的求和；以及由所述强度的所述分析处理确定所述力学量。